本文介紹了一種借鑒于軟件“黑盒測(cè)試法”,對(duì)“串聯(lián)型”電阻應(yīng)變式稱重 傳感器進(jìn)行TC-SPAN調(diào)整的最優(yōu)化方法。該方法具有直觀、簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確的特點(diǎn),在實(shí)際使 用中取得了很好的效果。
對(duì)于電阻應(yīng)變式稱重傳感器,其輸出靈敏度 易受到溫度變化的影響,即存在“量程溫度系 數(shù)”,簡(jiǎn)稱TC-SPAN。為了補(bǔ)償溫度變化對(duì)傳感器 輸出靈敏度的影響,通常在傳感器的供電回路中 串入溫敏電阻或模量補(bǔ)償電阻,此即所謂的“串 聯(lián)型” TC-SPAN調(diào)整方法。為控制補(bǔ)償?shù)臏?zhǔn)確性,
一般需要在溫敏電阻或模量補(bǔ)償電阻上并聯(lián)一個(gè) 精密電阻,以實(shí)現(xiàn)對(duì)補(bǔ)償量的準(zhǔn)確控制。在實(shí)際 設(shè)計(jì)和制造中,如何確定這個(gè)精密電阻的阻值,通常是TC-SPAN調(diào)整的關(guān)鍵和難點(diǎn)。
在實(shí)際工作中,受到軟件“黑盒測(cè)試法”的 啟發(fā),通過一系列的數(shù)學(xué)方法,設(shè)計(jì)出一種“串 聯(lián)型” TC-SPAN調(diào)整的“黑盒法”,并在實(shí)際應(yīng)用 中取得了非常令人滿意的效果?,F(xiàn)介紹該方法的 主要思想,希望接受廣大同行的檢驗(yàn)。
黑盒測(cè)試法實(shí)際上是一種軟件工程中的測(cè)試 方法,與其相對(duì)應(yīng)的即為“白盒測(cè)試法”。在一個(gè) 軟件模塊中,通常包括:輸人、輸出和內(nèi)部邏輯。
簡(jiǎn)單而言,白盒測(cè)試法,就是通過檢査內(nèi)部邏輯 的正確與否來判斷軟件是否符合設(shè)計(jì)要求,即軟 件內(nèi)部的工作機(jī)制對(duì)于測(cè)試者而言是公開的、可 見的。而黑盒測(cè)試法則相反,主要通過比較輸入 和輸出之間的關(guān)系是否符合預(yù)先設(shè)定的邏輯來判 斷軟件是否正確,即軟件內(nèi)部的處理機(jī)制對(duì)于測(cè) 試者而言是不可見的,這就是“黑盒” 一詞的來 源。
通常的“串聯(lián)型” TC-SPAN調(diào)整過程,其過 程類似于上面所述的“白盒法”,即必須先了解傳 感器內(nèi)部的工作機(jī)理。下圖是對(duì)一般稱重傳感器 電路建立的一個(gè)簡(jiǎn)化的數(shù)學(xué)模型。
如圖1所示:
e表示傳感器的輸人,u表示輸出,一般為電 壓信號(hào)模型。
y、g、p為電阻模型,分別表迅模量補(bǔ)償電阻 (溫敏電阻)、應(yīng)變電橋輸人阻抗和進(jìn)行補(bǔ)償量調(diào) 節(jié)的并聯(lián)精密電阻。
q為放大器模型,其放大系數(shù)即為應(yīng)變電橋的 增益。
根據(jù)圖1可知,傳感器的靈敏度V可表示為:
由于y、q、g是溫度T的函數(shù),因此一般的 TC-SPAN調(diào)整方法,其本質(zhì)就是通過測(cè)量或計(jì)算 y、q、g在不同溫度下的特性,再進(jìn)一步計(jì)算求解 得到P。
筆者認(rèn)為,該方法最大的問題就是在于“復(fù) 雜”。而復(fù)雜的后果就是在試驗(yàn)過程中,會(huì)帶來更 多的測(cè)量誤差和累積誤差,因此對(duì)試驗(yàn)中使用的 檢測(cè)設(shè)備和方法要求很高,不易掌握和控制。
以“黑盒法”的角度看,TC-SPAN試驗(yàn)時(shí),u 是輸出。e雖然是輸入,但是恒定,因此對(duì)溫度變 化造成的u的變化沒有影響。因此只有P才是需 要關(guān)注的輸入變量。
黑盒法視角下傳感器的數(shù)學(xué)模型,如圖2所示:如圖3所示,橫軸為P的取值。縱軸為u的 測(cè)量值。三根曲線分別表示常溫、高溫和低溫下 的試驗(yàn)結(jié)果。
因此,根據(jù)泰勒級(jí)數(shù),利用最小二乘法對(duì)上 述曲線進(jìn)行冪函數(shù)擬合,即可獲得函數(shù)關(guān)系f的近 似表達(dá)。
由于近似線性,因此取k=2可以獲得較好的 擬合精度,又可以降低后續(xù)數(shù)據(jù)計(jì)算的難度。 分別對(duì)不同溫度下的關(guān)系進(jìn)行擬合,則可得
到:
很顯然,至此TC-SPAN調(diào)整的問題,已經(jīng)轉(zhuǎn) 變成一個(gè)單目標(biāo)單變量的最優(yōu)化問題。
根據(jù)稱重傳感器TC-SPAN調(diào)整的目的來看, 即要使髙溫和低溫下的輸出靈敏度和常溫下的輸 出靈敏度盡量一直,即相對(duì)誤差最小。因此可建 立以下的最優(yōu)化目標(biāo)函數(shù):
求解上述最優(yōu)化問題,即可得到最佳的并聯(lián)電阻值Po
實(shí)際上,建立不同的最優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),得到 的最優(yōu)化解是不同的。因此,在實(shí)際使用中應(yīng)根
據(jù)具體要求,設(shè)定對(duì)應(yīng)的最優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)。例如, 筆者在實(shí)際使用中采用的最優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)為:
需要說明的是,通過上述方法得到的最優(yōu) 解,并非一定是滿足TC-SPAN要求的。而且在 實(shí)際制造過程中,電阻本身是有誤差的,并且也 受到溫度變化的影響,只不過精密電阻的溫度系 數(shù)較小而巳。因此,僅僅計(jì)算得到最優(yōu)解是不夠 的,還應(yīng)計(jì)算在一定的允差范圍內(nèi)p的取值區(qū) 間,即解集。這樣,不僅可以檢驗(yàn)最優(yōu)解是否滿 足調(diào)整誤差要求,還可以使電阻可選擇范圍更 大。
假設(shè),允許TC-SPAN的最大誤差為d (例如, d=0.015%),則可建立以下不等式方程組:
顯然,如果進(jìn)行曲線擬合時(shí)采用k=2,則上述 不等式就是一個(gè)一元二次不等式,解該不等式就 可獲得符合要求的關(guān)于P的解集。通常,由于試 驗(yàn)和曲線擬合存在一定誤差,因此取略小的d有 利于提高成功率。
筆者使用該方法,對(duì)超過20個(gè)各型傳感器進(jìn) 行了 TC-SPAN調(diào)整,全部一次成功。說明該方法 是一種準(zhǔn)確性和可靠性都不錯(cuò)的方法。但是根據(jù) 筆者使用經(jīng)驗(yàn),以下情況是需要注意的:
進(jìn)行曲線擬合時(shí),一定要注意選擇合適的 擬合范圍(針對(duì)P)。如果擬合范圍不合適,未包 含P的最優(yōu)值,則在計(jì)算最優(yōu)解時(shí)會(huì)出現(xiàn)“外插 值”的情況,則可能導(dǎo)致計(jì)算結(jié)果的偏差增大。 設(shè)定較廣的擬合范圍,雖然降低了出現(xiàn)“外插值” 的概率,但是曲線擬合的誤差會(huì)增大。因此實(shí)際 使用時(shí),應(yīng)對(duì)上述情況進(jìn)行權(quán)衡。
該方法適合在確定模量補(bǔ)償電阻(溫敏電 阻)后使用。